文部科学省ナノプラ事業

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ARIM設備検索ツール拡張版ver.1.5.8

キーワード: プリセットキーワードを選択出来ます。直接入力も可(スペース区切)。検索対象は設備ID、分類、装置名称・キーワード、仕様・特徴（AND検索・部分一致）


設置場所: ボタンで選択するか、スペースで区切って入力してください。検索対象は設置機関、設置場所（OR検索・部分一致）

機能: 横断領域（計測）で独自調査した機能。（OR検索）

+1:質量分析：
+2:バルク機能評価：
+3:共鳴分光法：
+4:光分光・顕微鏡法：
+5:X線回折法：
+6:走査プローブ解析：
+7:走査電子・イオン顕微鏡法：
+8:透過電子顕微鏡法：
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